感应场可以直接或间接对地造成危害。因为任何带电体周围都存在静电场。如果ESDS器件进入静电场范围，就会因为感应而带电。如果器件在电场区域内接地，电荷转移到地的过程称为CDM事件。

        2)软损伤：又称“潜在性缓慢失效”、“多次损伤累积后失效”，约占90%。受到软损伤的器件，虽然当时各类电参数仍合格，然而其使用寿命却大大缩短了。含有这些器件的产品或系统，可靠性变差，可能会在后续过程中（直至最终用户）继续遭受ESD软损伤或其它过应力损伤积累而过早地失效。

       由于软损伤是潜在的，运用目前的技术还很难证明或检测出来，特别是器件被装入整机产品之后，因此具有更大的危害性。这些产品流入市场后的维护成本和造成的其它损失，将比在生产中发生的直接损失要放大几十甚至上百倍！多数未采取保护措施的元器件静电放电敏感度都是很低，很多在几百伏的范围，如MOS单管在100-200V之间，而且这些单管是不能增加保护电路的；一些电路尤其是CMOS IC采取了静电保护设计，虽然明显的提高抗ESD水平，但大多数也只能达到2000－4000V，而在实际环境中产生的静电电压则可能达到上万伏。
         因此，没有防护的元器件很容易受到静电损伤。随着元器件尺寸的越来减小，这种损伤就会越来越多。所以，绝大多数元器件是静电敏感器件，需要在制造、运输和使用过程中采取防静电保护措施。列出一些没有静电保护设计器件的静电放电敏感度。

        如也有不清楚的可以随时在线留言，我们致力于验厂咨询.认证体系辅导服务多年，累计帮助上万家知名企业顺利通过各种各样验厂和体系认证辅导。为广大客户提供一站式服务，机构遍布全国，无论是国内还是国外，都有我们公司的各个地区的辅导机构，且社会经验丰富，老师专业，拥有诸多的人脉关系，可以为工厂提供高性价比的服务，避免找不到方向，让制造厂安心、快速顺利通过验厂和认证审核。